Войти / Зарегистрироваться

Новая российская технология позволит заменить человека еще в одной сфере

с 20 ноя по 27 ноя 2020

Впервые обучить нейросеть поиску и анализу наночастиц с помощью микроскопа смогли ученые Национального исследовательского ядерного университета "МИФИ" (НИЯУ МИФИ). Предложенный ими метод обучения нейросетей позволит отказаться от ручной обработки микрофотографий, что многократно увеличит скорость и качество анализа новых наноматериалов. Данные исследования опубликованы в журнале Ultramicroscopy.

Чтобы обучить нейросеть решать ту или иную задачу, необходимо, как объяснили ученые, "скормить" ей массив уже решенных примеров. Обычно такие обучающие примеры создают люди — так называемые разметчики данных. Чтобы научить сеть анализу изображений, требуются нескольких десятков тысяч размеченных фото, что, по словам ученых, крайне затруднительно для ряда узкоспециальных научных задач.

Одной из таких областей является анализ данных микроскопии наночастиц, для которого до сих пор не существовало удобных инструментов. Исследование ученых НИЯУ МИФИ показало, что эффективно обучать нейросети анализу изображений со сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) можно не размечая реальные микрофотографии вручную, а генерируя имитирующие их изображения на компьютере.

"СЭМ, использующий вместо видимого света пучок электронов, применяется при изучении наночастиц, синтезируемых для медицины и других целей. Анализ снимков СЭМ заключается в обнаружении частиц и распределении их по размерам. Нейросетевые подходы в этой области не развиты, а стандартные методы обработки изображений не дают нужного качества", – объяснил специалист Инженерно-физического института биомедицины НИЯУ МИФИ Александр Харин.

Регистрация

*Обязательные поля

Уже есть аккаунт? Авторизируйтесь



Скачайте мобильное приложение «Битрикс24»

Перейти в браузере

Регистрация

Ваша заявка принята!

Мы уведомим вас о результатах рассмотрения вашей заявки по адресу электронной почты, указанной вами.

Регистрация

Произошла ошибка

Пожалуйста, пройдите процесс регистрации заново.

Ошибка отправки!

Приносим свои извинения. Пожалуйста, попробуйте отправить Вашу заявку позже.